Apparate und Geräte zum Prüfen und Testen: Ausschreibungen

CPV-Gruppe 385 in der Abteilung 38 — Labor- und Messtechnik. Offene Ausschreibungen aus den Vergabeportalen.

33 offene Ausschreibungen
14,4 Tage Ø Frist (Rest)
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Deutschland – Maschinen und Geräte zum Prüfen und Messen – Semi-Automatic Wafer Prober System for Characterization of 200-mm Wafers
IHP GmbH - Lebniz-Institut für innovative Mikroelektronik Frankfurt (Oder) Offenes Verfahren1 Los

The subject of the procurement is the supply, installation and commissioning of a semi-automatic wafer prober system for the electrical and high-frequency characterization of 200-mm wafers for research and laboratory use at IHP. The system shall include, among other components, a 200-mm wafer …

Frist 29.10.2026 · noch 19 Tage
Deutschland – Servo-hydraulische Prüfgeräte – 4MN-Prüfeinheit
Technische Universität Dresden, Dezernat Finanzen und Beschaffung, Sachgebiet Zentrale Beschaffung und Anlagenbuchhaltung Dresden Offenes Verfahren1 Los

Gegenstand des Vergabeverfahrens ist die Lieferung und betriebsbereite Übergabe 4MN-Prüfeinheit

Frist 30.10.2026 · noch 20 Tage
Deutschland – Mikroskope – Fluoreszenzmikroskope LOS 1: Konfokal-Mikroskop LOS 2: LightSheet-Mikroskop
Universitätsklinikum Halle (Saale) AöR Halle (Saale) Offenes Verfahren1.512.491 €2 Lose

Im Auftrag der Medizinischen Fakultät wird folgende Beschaffung durchgeführt: Im Rahmen des Forschungsprojektes „KOMPASS – Kombinierte Plattform für Substanz- und Systementwicklung“ soll die mikroskopische Forschungsinfrastruktur um zwei leistungsfähige Systeme für die hochauflösende und …

Frist 30.10.2026 · noch 20 Tage
Armaturenprüfstand
Stadt Nürnberg - Feuerwehr (FW/2) 90451 Nürnberg Öffentliche Ausschreibung1 Los

Ausschreibung über die Lieferung und Installation eines Armaturen- und Saugschlauchprüfstands, inklusive notwendiger Anschlussleitungen, Softwareschnittstelle und Prüfadaptern. Armaturenprüfstand

Frist 02.11.2026 · noch 23 Tage
Deutschland – Apparate und Geräte zum Prüfen und Testen – Anschaffung eines Femtosekunden-Laser-Systems mit Ti.Sa-Verstärkungssystems (Fachlos 1) und eines Detektionssystem (Fachlos 2)
Leibniz-Institut für Oberflächenmodifizierung e.V. Leipzig Offenes Verfahren2 Lose

Für die Untersuchung nichtlinearer optischer Parameter wird die Anschaffung eines neuen einem Femtosekunden-Laser-Systems/Ti:Sa Verstärkersystem (Fachlos 1, Neugerät) und eines Detektionssystems (Fachlos 2, Neugerät) inklusive der Lieferung, Installation und Einweisung am Gerät ausgeschrieben.

Frist 04.11.2026 · noch 25 Tage

Apparate und Geräte zum Prüfen und Testen in anderen Bundesländern

CPV-Gruppen der Abteilung Labor- und Messtechnik

Ganze Abteilung: Labor- und Messtechnik

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