Ergebnis der Vergabe
Deutschland – Rasterelektronenmikroskope – Focus Ion Beam Rasterelektronenmikroskop für die Inspektion und EDX-Analyse von 200mm Wafern - PR468071 -2390 - W
Beschreibung
PR468071 -2390 - W Focus Ion Beam Rasterelektronenmikroskop für die Inspektion und EDX-Analyse von 200mm Wafern
Analyse: Zuschlagskriterien, Eignung, Checkliste — mit Konto
Mit einem Konto liest Zuschlagsreif die Vergabeunterlagen dieses Verfahrens und erstellt daraus eine Analyse: Zuschlagskriterien mit Gewichtung, Eignungsanforderungen, Zeitplan und eine Checkliste der einzureichenden Unterlagen.
Analyse ansehenAngaben aus der Bekanntmachung
- Auftraggeber
- Fraunhofer-Gesellschaft - Einkauf B12
- Ort
- München
- Bundesland
- Schleswig-Holstein
- CPV
- 38511100 — Rasterelektronenmikroskope
- Verfahrensart
- Verhandlungsverfahren mit vorheriger Veröffentlichung eines Aufrufs zum Wettbewerb/Verhandlungsverfahren
- Veröffentlicht
- 01.10.2024
- Zuschlag am
- 27.09.2024
- Kennung
- c53eb6c5-192c-4e2c-adc5-dc9c40cd93db
- Quelle
- TED (EU-Amtsblatt)
Lose
- Los 0
Zuschlag
- TESCAN GmbHDortmund
Einordnung
Fraunhofer-Gesellschaft - Einkauf B12 im Bestand
Auftraggeberprofil: alle Verfahren und Kennzahlen
Quelle: veröffentlichte Bekanntmachungen dieses Auftraggebers aus den angebundenen Vergabeportalen, Stand 09.10.2026.
Vergleichbare Verfahren: Labor- und Messtechnik in Schleswig-Holstein
Weniger als 30 Werte — die Zahl ist ein Anhaltspunkt, keine Marktaussage.
Quelle: veröffentlichte Zuschlagsbekanntmachungen derselben CPV-Abteilung (38) im Bestand von Zuschlagsreif; Werte, die ein Portal nicht veröffentlicht, fehlen in der jeweiligen Zahl. Stand der Auswertung: 10.10.2026. Alle Zuschläge
Zum Vergabeportal
Verbindlich sind allein die Angaben auf dem Vergabeportal. Stand dieser Seite: 01.10.2024, 00:00.