Ergebnis der Vergabe
Deutschland – Oberflächen-Messgeräte – Automatisiertes SiC-Schichtdickenmessgerät - PR661296-2790-W
Beschreibung
Automatisiertes SiC-Schichtdickenmessgerät
Analyse: Zuschlagskriterien, Eignung, Checkliste — mit Konto
Mit einem Konto liest Zuschlagsreif die Vergabeunterlagen dieses Verfahrens und erstellt daraus eine Analyse: Zuschlagskriterien mit Gewichtung, Eignungsanforderungen, Zeitplan und eine Checkliste der einzureichenden Unterlagen.
Analyse ansehenAngaben aus der Bekanntmachung
- Auftraggeber
- Fraunhofer-Gesellschaft, Einkauf B12
- Ort
- München
- Bundesland
- Bayern
- CPV
- 38126000 — Oberflächen-Messgeräte
- Verfahrensart
- Verhandlungsverfahren ohne Aufruf zum Wettbewerb
- Veröffentlicht
- 22.01.2025
- Zuschlag am
- 17.12.2024
- Kennung
- 8e9eb5f0-9cf1-4666-bce0-78a1dabbb9b6
- Quelle
- TED (EU-Amtsblatt)
Lose
- Los 0
Zuschlag
- Semilab Semiconductor Physics Laboratory Co. Ltd.Budapest
Einordnung
Fraunhofer-Gesellschaft - Einkauf B12 im Bestand
Auftraggeberprofil: alle Verfahren und Kennzahlen
Quelle: veröffentlichte Bekanntmachungen dieses Auftraggebers aus den angebundenen Vergabeportalen, Stand 10.10.2026.
Vergleichbare Verfahren: Labor- und Messtechnik in Bayern
Quelle: veröffentlichte Zuschlagsbekanntmachungen derselben CPV-Abteilung (38) im Bestand von Zuschlagsreif; Werte, die ein Portal nicht veröffentlicht, fehlen in der jeweiligen Zahl. Stand der Auswertung: 10.10.2026. Alle Zuschläge
Zum Vergabeportal
Verbindlich sind allein die Angaben auf dem Vergabeportal. Stand dieser Seite: 12.09.2026, 21:53.