Ausschreibung

Deutschland – Rasterelektronenmikroskope – Precise ion beam based trenching tool (IMWS-03.2) + high performance Ga-FIB sample preparation (IMWS-08.1) + high performance analyical SEM inspection (IMWS-08.2) - PR924050-2690-P

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27.05.2025, 10:00 Teilnahmefrist · abgelaufen

3 Lose

Beschreibung

Precise ion beam based trenching tool (IMWS-03.2) + high performance Ga-FIB sample preparation (IMWS-08.1) + high performance analyical SEM inspection (IMWS-08.2)

Analyse: Zuschlagskriterien, Eignung, Checkliste — mit Konto

Mit einem Konto liest Zuschlagsreif die Vergabeunterlagen dieses Verfahrens und erstellt daraus eine Analyse: Zuschlagskriterien mit Gewichtung, Eignungsanforderungen, Zeitplan und eine Checkliste der einzureichenden Unterlagen.

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Angaben aus der Bekanntmachung

Auftraggeber: Fraunhofer-Gesellschaft - Einkauf B12
Ort: München
Bundesland: Sachsen-Anhalt
CPV: 38511100 — Rasterelektronenmikroskope
Verfahrensart: Verhandlungsverfahren mit vorheriger Veröffentlichung eines Aufrufs zum Wettbewerb/Verhandlungsverfahren
Veröffentlicht: 28.04.2025
Teilnahmefrist: 27.05.2025, 10:00
Kennung: 5e6f1027-9737-4392-a1ad-ae40de625b42
Quelle: TED (EU-Amtsblatt)

Lose

Los 1
Los 2
Los 3

Einordnung

Fraunhofer-Gesellschaft - Einkauf B12 im Bestand

2.241 Ausschreibungen (davon 1.504 Ergebnisse)

2,3 Ø Bieterzahl (954 Ergebnisse)

378.525 € Median Zuschlagswert (9 Zuschläge)

25,9 Tage Ø Tage bis zur Frist (702 Ausschreibungen)

Auftraggeberprofil: alle Verfahren und Kennzahlen

Quelle: veröffentlichte Bekanntmachungen dieses Auftraggebers aus den angebundenen Vergabeportalen, Stand 10.10.2026.

Vergleichbare Verfahren: Labor- und Messtechnik in Sachsen-Anhalt

167 Zuschläge vom 01.11.2024 bis 10.10.2026

1,0 Median Bieterzahl (152 Zuschläge mit Angabe)

359.350 € Median Zuschlagswert (81 Zuschläge mit Wert)

62 Tage Median von Bekanntmachung bis Zuschlag (122 Verfahren)

Quelle: veröffentlichte Zuschlagsbekanntmachungen derselben CPV-Abteilung (38) im Bestand von Zuschlagsreif; Werte, die ein Portal nicht veröffentlicht, fehlen in der jeweiligen Zahl. Stand der Auswertung: 10.10.2026. Alle Zuschläge

Verlauf des Verfahrens

Ausschreibung 28.04.2025
Deutschland – Rasterelektronenmikroskope – Precise ion beam based trenching tool (IMWS-03.2) + high performance Ga-FIB sample preparation (IMWS-08.1) + high performance analyical SEM inspection (IMWS-08.2) - PR924050-2690-P
Ergebnis der Vergabe 10.12.2025
Deutschland – Rasterelektronenmikroskope – Precise ion beam based trenching tool (IMWS-03.2) + high performance Ga-FIB sample preparation (IMWS-08.1) + high performance analyical SEM inspection (IMWS-08.2) - PR924050-2690-P

Zum Vergabeportal

Verbindlich sind allein die Angaben auf dem Vergabeportal. Stand dieser Seite: 12.09.2026, 21:04.