Ausschreibung
Deutschland – Apparate und Geräte zum Prüfen und Testen – Wafer Prober (IMS-04) - PR899917-2380-P
Zu diesem Verfahren liegt bereits ein Zuschlag vor. Die Frist unten steht so in der Bekanntmachung; vergeben ist der Auftrag trotzdem. Zum Ergebnis
Beschreibung
Wafer Prober (IMS-04)
Analyse: Zuschlagskriterien, Eignung, Checkliste — mit Konto
Mit einem Konto liest Zuschlagsreif die Vergabeunterlagen dieses Verfahrens und erstellt daraus eine Analyse: Zuschlagskriterien mit Gewichtung, Eignungsanforderungen, Zeitplan und eine Checkliste der einzureichenden Unterlagen.
Analyse ansehenAngaben aus der Bekanntmachung
- Auftraggeber
- Fraunhofer-Gesellschaft - Einkauf B12
- Ort
- München
- Bundesland
- Nordrhein-Westfalen
- CPV
- 38500000 — Apparate und Geräte zum Prüfen und Testen
- Verfahrensart
- Verhandlungsverfahren mit vorheriger Veröffentlichung eines Aufrufs zum Wettbewerb/Verhandlungsverfahren
- Veröffentlicht
- 13.05.2025
- Teilnahmefrist
- 03.06.2025, 13:00
- Kennung
- 785a5447-2a8e-4036-afd1-f15e162c8950
- Quelle
- TED (EU-Amtsblatt)
Lose
- Los 0
Einordnung
Fraunhofer-Gesellschaft - Einkauf B12 im Bestand
Auftraggeberprofil: alle Verfahren und Kennzahlen
Quelle: veröffentlichte Bekanntmachungen dieses Auftraggebers aus den angebundenen Vergabeportalen, Stand 10.10.2026.
Vergleichbare Verfahren: Labor- und Messtechnik in Nordrhein-Westfalen
Quelle: veröffentlichte Zuschlagsbekanntmachungen derselben CPV-Abteilung (38) im Bestand von Zuschlagsreif; Werte, die ein Portal nicht veröffentlicht, fehlen in der jeweiligen Zahl. Stand der Auswertung: 10.10.2026. Alle Zuschläge
Verlauf des Verfahrens
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Ausschreibung
13.05.2025
Deutschland – Apparate und Geräte zum Prüfen und Testen – Wafer Prober (IMS-04) - PR899917-2380-P -
Ergebnis der Vergabe
07.11.2025
Deutschland – Apparate und Geräte zum Prüfen und Testen – Wafer Prober (IMS-04) - PR899917-2380-P
Zum Vergabeportal
Verbindlich sind allein die Angaben auf dem Vergabeportal. Stand dieser Seite: 12.09.2026, 20:37.