Ergebnis der Vergabe
Deutschland – Elektronenmikroskope – Beschaffung einer Kryo-Plasma-Fokussiertes Ionenstrahl- Rasterelektronenmikroskop (Kryo-pFIB-SEM)
Beschreibung
Beschaffung einer Kryo-Plasma-Fokussiertes Ionenstrahl- Rasterelektronenmikroskop (Kryo-pFIB-SEM), d.h. ein komplett neues vollautomatisiertes Plasma-Focused-Ion-Beam Rasterelektronenmikroskop.
Analyse: Zuschlagskriterien, Eignung, Checkliste — mit Konto
Mit einem Konto liest Zuschlagsreif die Vergabeunterlagen dieses Verfahrens und erstellt daraus eine Analyse: Zuschlagskriterien mit Gewichtung, Eignungsanforderungen, Zeitplan und eine Checkliste der einzureichenden Unterlagen.
Analyse ansehenAngaben aus der Bekanntmachung
- Auftraggeber
- Der Kanzler der Johann Wolfgang Goethe-Universität, Bereich Finanzen und Controlling, Einkaufsmanagement
- Ort
- Frankfurt am Main
- Bundesland
- Hessen
- CPV
- 38511000 — Elektronenmikroskope
- Verfahrensart
- Verhandlungsverfahren ohne Aufruf zum Wettbewerb
- Veröffentlicht
- 02.07.2025
- Zuschlag am
- 23.06.2025
- Kennung
- cdcf9d5c-077a-47ab-ac5f-20e1d504866d
- Quelle
- TED (EU-Amtsblatt)
Lose
- Los 1
Zuschlag
- FEI Deutschland GmbHDreieich
Einordnung
Der Kanzler der Johann Wolfgang Goethe-Universität, Bereich Finanzen und Controlling, Einkaufsmanagement im Bestand
Auftraggeberprofil: alle Verfahren und Kennzahlen
Quelle: veröffentlichte Bekanntmachungen dieses Auftraggebers aus den angebundenen Vergabeportalen, Stand 10.10.2026.
Vergleichbare Verfahren: Labor- und Messtechnik in Hessen
Quelle: veröffentlichte Zuschlagsbekanntmachungen derselben CPV-Abteilung (38) im Bestand von Zuschlagsreif; Werte, die ein Portal nicht veröffentlicht, fehlen in der jeweiligen Zahl. Stand der Auswertung: 10.10.2026. Alle Zuschläge
Zum Vergabeportal
Verbindlich sind allein die Angaben auf dem Vergabeportal. Stand dieser Seite: 12.09.2026, 19:52.