Ergebnis der Vergabe
Deutschland – Diverse Maschinen und Geräte für besondere Zwecke – Wafer inspection system (WIS) - PR1006153-2350 -W
Beschreibung
PR1006153-2350 -W Automatisiertes Waferinspektiosnsystem /Wafer inspection system (WIS) with automated handling and sorting station for the characterization and classification of crystalline silicon wafers for solar cell production
Analyse: Zuschlagskriterien, Eignung, Checkliste — mit Konto
Mit einem Konto liest Zuschlagsreif die Vergabeunterlagen dieses Verfahrens und erstellt daraus eine Analyse: Zuschlagskriterien mit Gewichtung, Eignungsanforderungen, Zeitplan und eine Checkliste der einzureichenden Unterlagen.
Analyse ansehenAngaben aus der Bekanntmachung
- Auftraggeber
- Fraunhofer-Gesellschaft, Einkauf B12
- Ort
- München
- CPV
- 42990000 — Diverse Maschinen und Geräte für besondere Zwecke
- Verfahrensart
- Verhandlungsverfahren ohne Aufruf zum Wettbewerb
- Veröffentlicht
- 12.12.2025
- Zuschlag am
- 10.12.2025
- Kennung
- c457078d-9317-437e-8c25-941455ef5d3e
- Quelle
- TED (EU-Amtsblatt)
Lose
- Los 0
Zuschlag
- FORTIXSeo-gu, Incheon, Korea
Einordnung
Fraunhofer-Gesellschaft - Einkauf B12 im Bestand
Auftraggeberprofil: alle Verfahren und Kennzahlen
Quelle: veröffentlichte Bekanntmachungen dieses Auftraggebers aus den angebundenen Vergabeportalen, Stand 10.10.2026.
Vergleichbare Verfahren: Industriemaschinen, bundesweit
Quelle: veröffentlichte Zuschlagsbekanntmachungen derselben CPV-Abteilung (42) im Bestand von Zuschlagsreif; Werte, die ein Portal nicht veröffentlicht, fehlen in der jeweiligen Zahl. Stand der Auswertung: 10.10.2026. Alle Zuschläge
Zum Vergabeportal
Verbindlich sind allein die Angaben auf dem Vergabeportal. Stand dieser Seite: 12.09.2026, 18:31.