Ergebnis der Vergabe

200 mm Semi-Automatic RF Probe System for On-Wafer Measurements up to 250 GHz

189.900 € Zuschlagswert

1 Bieter

1 Los

Analyse: Zuschlagskriterien, Eignung, Checkliste — mit Konto

Mit einem Konto liest Zuschlagsreif die Vergabeunterlagen dieses Verfahrens und erstellt daraus eine Analyse: Zuschlagskriterien mit Gewichtung, Eignungsanforderungen, Zeitplan und eine Checkliste der einzureichenden Unterlagen.

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Angaben aus der Bekanntmachung

Auftraggeber: IHP GmbH - Leibniz-Institut für innovative Mikroelektronik
Ort: Frankfurt (Oder)
Bundesland: Brandenburg
CPV: 38341300 — Instrumente zum Messen elektrischer Größen
Weitere: 38540000
Verfahrensart: Offenes Verfahren
Veröffentlicht: 06.10.2026
Zuschlag am: 28.08.2026
Kennung: d6a5e39f-5387-45d4-a3dc-d02f0083775a
Quelle: oeffentlichevergabe.de (Bund)

Lose

Los 1 — 200 mm Semi-Automatic RF Probe System for On-Wafer Measurements up to 250 GHz

Zuschlag

ATV Systems GmbHDresden

Einordnung

IHP GmbH - Leibniz-Institut für innovative Mikroelektronik im Bestand

105 Ausschreibungen (davon 56 Ergebnisse)

2,1 Ø Bieterzahl (33 Ergebnisse)

465.815 € Median Zuschlagswert (26 Zuschläge)

31,0 Tage Ø Tage bis zur Frist (48 Ausschreibungen)

Auftraggeberprofil: alle Verfahren und Kennzahlen

Quelle: veröffentlichte Bekanntmachungen dieses Auftraggebers aus den angebundenen Vergabeportalen, Stand 09.10.2026.

Vergleichbare Verfahren: Labor- und Messtechnik in Brandenburg

89 Zuschläge vom 01.11.2024 bis 10.10.2026

1,0 Median Bieterzahl (65 Zuschläge mit Angabe)

438.500 € Median Zuschlagswert (29 Zuschläge mit Wert)

67 Tage Median von Bekanntmachung bis Zuschlag (39 Verfahren)

Quelle: veröffentlichte Zuschlagsbekanntmachungen derselben CPV-Abteilung (38) im Bestand von Zuschlagsreif; Werte, die ein Portal nicht veröffentlicht, fehlen in der jeweiligen Zahl. Stand der Auswertung: 10.10.2026. Alle Zuschläge

Verlauf des Verfahrens

Ausschreibung 23.06.2026
200 mm Semi-Automatic RF Probe System for On-Wafer Measurements up to 250 GHz
Ausschreibung 25.06.2026
Deutschland – Instrumente zum Messen elektrischer Größen – 200 mm Semi-Automatic RF Probe System for On-Wafer Measurements up to 250 GHz
Ergebnis der Vergabe 06.10.2026
200 mm Semi-Automatic RF Probe System for On-Wafer Measurements up to 250 GHz
Ergebnis der Vergabe 07.10.2026
Deutschland – Instrumente zum Messen elektrischer Größen – 200 mm Semi-Automatic RF Probe System for On-Wafer Measurements up to 250 GHz

Zum Vergabeportal

Original-Bekanntmachung

Verbindlich sind allein die Angaben auf dem Vergabeportal. Stand dieser Seite: 08.10.2026, 04:24.