Ausschreibung
Deutschland – Laborgeräte, optische Geräte und Präzisionsgeräte (außer Gläser) – Dual Beam Focused Ion Beam System (FIB) und Transmissionselektronenmikroskop (TEM)
Frist abgelaufen. Die Angebotsfrist laut Bekanntmachung endete am 17.08.2026, 23:59 Uhr. Ob das Verfahren verlängert oder schon vergeben wurde, steht auf dem Vergabeportal. Offene Ausschreibungen: Labor- und Messtechnik
Beschreibung
Los1: DualBeam Focused Ion Beam Systems (FIB) Gegenstand ist die Lieferung, Installation, Inbetriebnahme sowie betriebsbereite Übergabe eines DualBeam Focused Ion Beam Systems (FIB) einschließlich Einweisung/Schulung und vollständiger Systemdokumentation. Die technischen Mindestanforderungen und Bewertungsaspekte ergeben sich aus den Dokumenten "Los1.25-1696.05.techn.Anforderungsprofil" und "Los1.25-1696.06.Wertungsmatrix". Los2: Transmissionselektronenmikroskop (TEM) Gegenstand ist die Lieferung, Installation, Inbetriebnahme sowie betriebsbereite Übergabe eines Transmissionselektronenmikroskops (TEM) einschließlich Einweisung/Schulung und vollständiger Systemdokumentation. Die technischen Mindestanforderungen und Bewertungsaspekte ergeben sich aus den Dokumenten "Los2.25-1707.05.techn.Anforderungsprofil" und "Los2.25-1707.06.Wertungsmatrix".
Analyse: Zuschlagskriterien, Eignung, Checkliste — mit Konto
Mit einem Konto liest Zuschlagsreif die Vergabeunterlagen dieses Verfahrens und erstellt daraus eine Analyse: Zuschlagskriterien mit Gewichtung, Eignungsanforderungen, Zeitplan und eine Checkliste der einzureichenden Unterlagen.
Analyse ansehenAngaben aus der Bekanntmachung
- Auftraggeber
- Institut für Oberflächen- und Schichttechnik GmbH
- Ort
- Kaiserslautern
- Bundesland
- Rheinland-Pfalz
- CPV
- 38000000 — Laborgeräte, optische Geräte und Präzisionsgeräte (außer Gläser)
- Verfahrensart
- Offenes Verfahren
- Veröffentlicht
- 17.07.2026
- Angebotsfrist
- 17.08.2026, 23:59
- Kennung
- b3e6743d-bfc2-4cac-a001-90b28790bddb
- Quelle
- TED (EU-Amtsblatt)
Lose
- Los 1
- Los 2
Einordnung
Institut für Oberflächen-und Schichttechnik GmbH im Bestand
Auftraggeberprofil: alle Verfahren und Kennzahlen
Quelle: veröffentlichte Bekanntmachungen dieses Auftraggebers aus den angebundenen Vergabeportalen, Stand 10.10.2026.
Vergleichbare Verfahren: Labor- und Messtechnik in Rheinland-Pfalz
Quelle: veröffentlichte Zuschlagsbekanntmachungen derselben CPV-Abteilung (38) im Bestand von Zuschlagsreif; Werte, die ein Portal nicht veröffentlicht, fehlen in der jeweiligen Zahl. Stand der Auswertung: 10.10.2026. Alle Zuschläge
Verlauf des Verfahrens
-
Ausschreibung
15.07.2026
Dual Beam Focused Ion Beam System (FIB) und Transmissionselektronenmikroskop (TEM) -
Ausschreibung
17.07.2026
Deutschland – Laborgeräte, optische Geräte und Präzisionsgeräte (außer Gläser) – Dual Beam Focused Ion Beam System (FIB) und Transmissionselektronenmikroskop (TEM)
Änderungen der Bekanntmachung
- Angebotsfrist — Uhrzeit ergänzt: 17.08.2026 → 17.08.2026, 23:59 11.09.2026, 19:45
Zum Vergabeportal
Verbindlich sind allein die Angaben auf dem Vergabeportal. Stand dieser Seite: 11.09.2026, 19:45.